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Analysis and characterization of device variations in an LSI chip using an integrated device matrix array

机译:使用集成器件矩阵阵列对LSI芯片中的器件变化进行分析和表征

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摘要

For future LSI design technology, the device matrix array (DMA), which can precisely evaluate variation in device parameters within a die, has been developed. The DMA consists of a 14-by-14 array of common units. The unit size is 240 by 240 /spl mu/m, and each unit contains 148 measurement elements (52 transistors, 30 capacitors, 51 resistors, and 15 ring oscillators).
机译:对于未来的LSI设计技术,已经开发出可以精确评估管芯内设备参数变化的设备矩阵阵列(DMA)。 DMA由14 x 14的通用单元阵列组成。单元尺寸为240 x 240 / spl mu / m,每个单元包含148个测量元件(52个晶体管,30个电容器,51个电阻器和15个环形振荡器)。

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