DRAM chips; large scale integration; embedded systems; built-in self test; integrated circuit testing; programmable circuits; cache storage; integrated circuit design; cache DRAM LSI; speed-scalable design; programmable at-speed function-array BIST; SRAM;
机译:具有速度可扩展设计和可编程全速功能阵列BIST的750MHz 144Mb高速缓存DRAM LSI
机译:具有速度可伸缩设计和可编程函数阵列BIST的750MHz 144MB缓存DRAM LSI
机译:高速DRAM测试的BIST体系结构
机译:具有速度可扩展设计和可编程函数阵列BIST的750MHz 144MB缓存DRAM LSI
机译:高速DRAM收发器设计,用于工艺和温度变化感知校准的低压应用
机译:无垢可编程设计的Kilobots和胶体电机的可线链环
机译:用于嵌入式DRam LsI的可编程高速阵列和功能BIsT
机译:LsI / VLsI(大规模集成/超大规模集成)离子注入Gaas(砷化镓)IC处理。附录B.用于集成高速逻辑电路的Gaas mEsFET器件的二维建模