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【24h】

X-ray reflectivity determination of interface roughness and correlated with magnetic coercivity of Co/sub 82/Cr/sub 12/Pt/sub 4/Ta/sub 4/ thin film

机译:X射线反射率测定界面粗糙度并与Co / sub 82 / Cr / sub 12 / Pt / sub 4 / Ta / sub 4 /薄膜的矫顽力相关

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