Testable Design and Test of Integrated Systems (TDT) Group CTIT Research Institute University of Twente Enschede the Netherlands;
Instruments; Temperature measurement; Voltage measurement; Monitoring; Temperature sensors; Propagation delay; Timing;
机译:具有并发电压测量功能的基于时间的嵌入式测试仪
机译:具有并发电压测量功能的基于时间的嵌入式测试仪
机译:基于频率上转换和延迟线滤波器的MMW-UWB单循环和双峰信号的光子生成
机译:IJTAG兼容延时线基电压嵌入式仪器,具有一个时钟周期转换时间
机译:基于电压到时间转换的10位a-SAR ADC电路的实现。
机译:在主体材料中嵌入量子点的太阳能电池的开路电压和转换效率的内在和外在下降
机译:基于Dickson-Charge-Pump的基于时间的ADC在28-NM CMOS中的电压与时间转换