Automated Sample Preparation of Packaged Microelectronics for FESEM

著录项

• 来源
  《ISTFA 2008 : Conference proceedings from the 34th international symposium for testing and failure analysis》|2008年|280-284|共5页
• 会议地点 Portland OR(US);Portland OR(US)
• 作者

  R. R. Cerchiara; rnP. E. Fischione; rnM. F. Boccabella; rnA. C. Robins;

  展开▼
• 作者单位

  E. A. Fischione Instruments, Inc., Export, PA 15632;

  E. A. Fischione Instruments, Inc., Export, PA 15632rnEmail: rr_cerchiara@fischione.com;

  E. A. Fischione Instruments, Inc., Export, PA 15632;

  E. A. Fischione Instruments, Inc., Export, PA 15632;

  展开▼
• 会议组织
• 原文格式 PDF
• 正文语种 eng
• 中图分类
• 关键词

• 入库时间 2022-08-26 14:08:17