Intel Corporation, Hillsboro, Oregon, USA;
机译:工艺和共添加量对Sn-3.0Ag-0.5Cu焊点剪切强度和微结构发展的影响
机译:Sn-3.0Ag-0.5Cu焊点的加工工艺和共添加量对剪切强度和微观组织发展的影响
机译:按照三维面部CT评估中建立参考平面的方法进行地标偏差
机译:总体过程控制和管理从可靠性,稳定性,可预测性的可追溯性(RSTP):进行包装和焊点可靠性研究,过程鉴定,E-SPC制造以及产品和过程鉴定的模型
机译:开发微电子焊点检查系统:模态分析,有限元建模和超声信号处理。
机译:使用BEAMnrc进行快速准确的光子束加速器建模:效率提高方法和横截面数据的系统研究
机译:芯片组件焊接接头可靠性设计方法(第二报告)(回流工艺变化对焊点疲劳寿命的影响)