首页> 外文会议>International conference on solid-state and integrated-circuit technology; 19951024-28; Beijing(CN) >A COMPUTER AIDED TEST SYSTEM FOR THE ANALYSIS OF OXIDE TRAPS RELAXATION SPECTROSCOPY OF MOS DEVICE (OTRS CAT SYSTEM)
【24h】

A COMPUTER AIDED TEST SYSTEM FOR THE ANALYSIS OF OXIDE TRAPS RELAXATION SPECTROSCOPY OF MOS DEVICE (OTRS CAT SYSTEM)

机译:用于分析MOS器件的氧化物陷阱弛豫光谱的计算机辅助测试系统(OTRS CAT系统)

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摘要

A CAT system focused on high field oxide degradation in MOS devices is developed under WINDOWS system and some results of dynamic stress are presented in this paper.
机译:在WINDOWS系统下,开发了一种针对MOS器件中高场氧化物降解的CAT系统,并提出了一些动态应力的结果。

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