【24h】

IMPROVED INDEPENDENT FAILURE UNIT MODEL FOR ELECTROMIGRATION

机译:改进的电离独立故障单元模型

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摘要

Considering physical mechanism and seme necessary assumptions we have improved Independent Failure Unit (IFU) Model, which is currently used to predict lifetime for EM. Our simulation results are more consistent with experiments than conventional IFU model.
机译:考虑到物理机制和必要的假设,我们改进了独立故障单元(IFU)模型,该模型目前用于预测EM的寿命。与常规IFU模型相比,我们的仿真结果与实验更加一致。

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