Dipartimento di Energetica, Universita di Roma 'La Sapienza' Via A. Scarpa 16 - 00161 Roma, Italy;
机译:光热偏转法测量厚度:表面电导的基本影响
机译:使用光热偏转法测量厚度变化的薄膜的热导率
机译:使用光热偏转法测量厚度变化的薄膜的热导率
机译:通过光热偏转方法测量厚度:表面电导的基本影响
机译:基于光热偏转光谱的自然相气溶胶的脉冲激光红外光热光谱法。
机译:使用常用检测器进行表面剂量测量:一致的厚度校正方法
机译:大挠度表面微梁对厚度剪切模式振动中石英晶体谐振器谐振频率的影响