Microelectronics Nanostructures group School of EEE University of Manchester M60 1QD UK;
e2v Technologies (UK) Ltd Carholme Rd Lincoln LN1 1SF UK;
gunn diode; on-wafer test; material characterization;
机译:通过热电子注入快速评估毫米波GaAs耿氏二极管中的掺杂峰值载流子浓度水平
机译:GaAs Gunn二极管的发展及其在调频连续波雷达中的应用
机译:用于汽车工业的77 GHz GaAs耿氏二极管芯片的制造与表征
机译:开发用于快速评估掺杂尖峰载体浓度水平的晶圆试验,用于汽车雷达应用的商业制造的GaAs Gunn二极管
机译:用于汽车工业的77 GHz GaAs耿氏二极管芯片的制造与表征
机译:Gaas Gunn二极管芯片的制造和表征,适用于77 GHz汽车工业