hot carriers; semiconductor device breakdown; semiconductor device models; semiconductor device reliability; thermal stability; hot carrier injection; modified Arrhenius relationship; modified exponential model; multiple failure mechanisms; negative bias temperat;
机译:绝缘栅双极晶体管模块的温度-湿度-偏置测试-高压导致的故障模式和加速
机译:具有几种失效机理的集成电路早期寿命失效区域的阿伦尼乌斯加速因子研究
机译:p38可能参与了15-Deoxy-Delta(12,14)-前列腺素J(2)和白血病细胞系THP-1中的前体加速增殖的机制。
机译:涉及多种故障机制的半导体器件的非阿里尼乌斯温度加速和应力相关电压加速
机译:确定冠状动脉的加速机制和磁性拓扑结构:多种加速机制的证据
机译:铁磁/半导体混合体中光学取向电子自旋的进动频率加速
机译:联邦强化学习加速方法,用于多台设备的精确控制