Measurement and Inspection Cluster, 3M Corporate Research Process Laboratory,3M Company, St Paul, MN 55144;
Measurement and Inspection Cluster, 3M Corporate Research Process Laboratory,3M Company, St Paul, MN 55144;
Measurement and Inspection Cluster, 3M Corporate Research Process Laboratory,3M Company, St Paul, MN 55144;
nanoparticle; density grating; electrode array; refractive index grating; diffusion coefficient; particle size characterization; realtime process monitoring;
机译:原子力显微镜对纳米级电极阵列中介电泳的定量测量
机译:使用新合成的介孔二氧化硅纳米粒子修饰的碳糊电极和可变部分最小二乘聚类分析碳糊电极对酪氨酸和色氨酸的伏安混合物分析:介孔二氧化硅纳米粒子合成中模板提取的高效策略
机译:使用尺寸可调的孔传感器同时测量分散体中单个纳米颗粒的尺寸和ζ电位
机译:二氧化硅纳米粒子分散尺寸测量使用微耦合电极阵列上的电泳
机译:反胶束法合成二氧化硅和磷酸硅钙复合纳米颗粒的洗涤和分散方法研究
机译:原子力显微镜对纳米级电极阵列中介电泳的定量测量
机译:在由SAM涂覆电极之间的介电泳形成的金纳米粒子阵列中观察到的单电子充电效果