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光音響・発光同時計測による窒化物半導体の内部量子効率の絶対測定

机译:通过同时进行光声和发射测量,绝对测量氮化物半导体的内部量子效率

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摘要

本研究では、正確な室温の内部量子効率の算出方法として、PA/PL 同時計測法を提案した。この測定方法は、輻射再結合により発生した「光」と非輻射再結合により発生した「熱」を同時に直接観測する方法であり、相補関係にある2つの要素から内部量子効率を算出するため、従来の方法よりも正確に内部量子効率を算出できる。デモンストレーションとして、InGaN 量子井戸試料に対して実験を行った。比較のため、従来の手法のPL 強度の温度依存性からも内部量子効率を見積もった。両者の結果は大きく異なっており、極低温で内部量子効率が1 であると仮定する従来手法では必ずしも正しい内部量子効率が求められないことがわかった。内部量子効率を正しく見積もるためには、本研究での提案手法のように、輻射再結合と非輻射再結合の双方を観測する方法を用いることが望ましいと考えられる。
机译:在这项研究中,我们提出了PA / PL同时测量方法,作为室温下内部量子效率的精确计算方法。该测量方法是直接直接观察由辐射复合产生的“光”和由非辐射复合产生的“热”的方法,并从两个互补元素计算内部量子效率。与传统方法相比,可以更精确地计算内部量子效率。作为演示,我们对InGaN量子阱样品进行了实验。为了进行比较,我们还根据常规方法的PL强度的温度依赖性来估算内部量子效率。两者的结果非常不同,并且发现通过假定低温温度下内部量子效率为1的常规方法不一定获得正确的内部量子效率。为了正确地估计内部量子效率,与本研究中提出的方法一样,希望使用一种既观察辐射复合又观察非辐射复合的方法。

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