金沢工業大学 工学部;
ソニー(株) 先端マテリアル研究所;
机译:[纪念演讲]通过同时测量光声和光发射以及时间分辨光发射来测量氮化物半导体的内部量子效率和辐射/非辐射复合寿命
机译:[纪念讲义]通过光声和发射测量测量和时间分辨的发光测量测量氮化物半导体的内部量子效率,测量辐射和非放射重组寿命
机译:光声和发光测量法测量IngaN量子阱的内部量子效率
机译:发光发光测量的氮化物半导体内部量子效率的绝对测量
机译:InP和Ga1-x InxAsyP1-y半导体中光电探测器的碰撞电离率和降噪研究
机译:通过光声光谱学研究半导体缺陷状态和缺陷产生以及通过电流注入声学方法研究半导体激光器的非发射过程。(VI。半导体的晶格弛豫,强耦合电子-晶格系统的动力学性质,科研补助金。 (会议报告)