Central Res. Lab. Hitachi Ltd. Tokyo Japan;
CMOS integrated circuits; charge pump circuits; low-power electronics; random-access storage; CMOS process; HVNMOS; charge pump; clock frequency; low power consumption; low power-supply voltage; nonvolatile memories;
机译:无体效应的电荷泵,产生正或负高压
机译:使用高k P(VDF-TrFE)栅极电介质和聚酰亚胺电荷存储层的非易失性柔性OFET存储器件的低压操作
机译:阳极氧化的氧化铝薄膜,用于常温处理,柔性,低压有机非易失性存储元件,具有出色的电荷保持能力
机译:一种充电泵,产生具有低电源电压的正负高电压和非易失性存储器的低功耗
机译:基于氮化物的局部电荷陷阱非易失性存储器件的阈值电压不稳定性。
机译:低压非易失性复合半导体存储单元的室温操作
机译:用于低功率,低电压和非周期性振动收集器输出的电荷泵功率转换电路。