Department of Electrical Engineering and Computer Science Northwestern University 2145 Sheridan Rd, Tech Inst. Bldg., EECS Dept., Evanston IL 60201;
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Fault-tolerance, Mean Time To Failure, Duplication, Partial Duplication;
机译:常见原因的备用冗余系统的可靠性和MTTF分析
机译:根据alpha因子和容量流模型评估具有常见原因故障和负载分担的2出3冗余系统的MTTF
机译:关于带有埃兰格分布单元和常见原因时间失效的冗余系统的MTTF公式的注释
机译:失败数据驱动的选择性节点级别重复,以提高高性能计算系统中的MTTF
机译:选择性指令复制提高双指令执行性能
机译:数据驱动方法改善医疗事故风险评估流程
机译:通过在高性能计算系统中复制可靠性关键组件来实现目标mTTF
机译:故障擦除电路:故障掩蔽系统的复制技术