Department of Physics, Virginia Commonwealth University, Richmond, VA 23284;
Department of Electrical and Computer Engineering, VCU, Richmond, VA 23284;
Department of Electrical and Computer Engineering, VCU, Richmond, VA 23284;
Department of Physics, Virginia Commonwealth University, Richmond, VA 23284;
Department of Physics, Virginia Commonwealth University, Richmond, VA 23284;
surface photovoltage; Kelvin probe; GaN; band bending;
机译:温度相关的开尔文探针测量p型GaN中的能带弯曲
机译:温度相关的开尔文探针测量p型GaN中的能带弯曲
机译:使用扫描开尔文探针显微镜测量Ni-(Al)GaN横向肖特基结上的表面电势
机译:Kelvin P型GaN的探针测量
机译:微观研究有机半导体中电荷的命运:扫描开尔文探针测量p型和n型器件中的电荷俘获,传输和电场
机译:通过开尔文探针力显微镜在P-I-N径向结Si纳米线上应用的局部VOC测量
机译:温度相关的开尔文探针测量p型GaN中的能带弯曲