Evaluation and Analysis Department ULSI Process Technology Development Center,Semiconductor Group Matsushita Electronics Corporation, 19 Nishikujo-Kasugacho,Minami-ku, Kyoto 601-8413, Japan Department of Electronics Science and Engineering, Kyoto University,Yoshida-Honmachi, Sakyo-ku, Kyoto 606-8501, Japan;
Department of Electronics Science and Engineering, Kyoto University,Yoshida-Honmachi, Sakyo-ku, Kyoto 606-8501, Japan;
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机译:链烷醇在金上构图的单分子层的扫描力显微镜研究-尖端样品接触区域在解释力调制和摩擦力显微图像中的重要性
机译:用微机械探针通过摩擦力显微镜测量纳米厚润滑膜中的粘性和干摩擦力
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机译:纳米多层多层膜的摩擦学纳米处理用原子力显微镜的力调制
机译:原子力显微镜研究有机薄膜润滑剂和金属氧化物表面
机译:润滑剂改性剂的纳米级分布铁膜上的研究:调频原子力显微镜研究结合摩擦测试
机译:铁膜润滑油改性剂的纳米级分布:频率调制原子力显微镜研究与摩擦试验相结合