首页> 外文会议>European Space Components Conference ESCCON 2002 Sep 24-27, 2002 Toulouse, France >TOTAL DOSE AND SINGLE EVENT EFFECTS IRRADIATION OF VARIOUS COMMERCIAL INTEGRATED CIRCUITS IN LOGIC FAMILIES AND LINE INTERFACES
【24h】

TOTAL DOSE AND SINGLE EVENT EFFECTS IRRADIATION OF VARIOUS COMMERCIAL INTEGRATED CIRCUITS IN LOGIC FAMILIES AND LINE INTERFACES

机译:逻辑家庭和线路接口中各种商业集成电路的总剂量和单个事件辐射

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摘要

This paper presents heavy ion single event effect as well as total ionising dose test results for candidate spacecraft electronics. Microelectronics selected and tested include Logic families and Line Interfaces.
机译:本文介绍了候选航天器电子设备的重离子单事件效应以及总电离剂量测试结果。选择和测试的微电子产品包括逻辑系列和线路接口。

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