Einführung binärer Entscheidunsgraphen auf hoher Beschreibungsebene in VHDL

摘要

Die Erzeugung von Funktionaltests dient der Aufdeckung von Designfehlern. Befolgt man beim Top-Down Entwurf von der Spezifikation bis zum Silizium einige Regeln ähnlich denen des strukturierten Software Entwurfs, so können diese Tests die Entwurfs-Validation auf den einzelnen Entwurfsebenen unterstützen. Die Evaluierung solcher Funktionaltests ausgehend von einem Verhaltensmodell beschrieben in VHDL ist ähnlich dem Problem des Softwaretests. Das Verfahren des Pfadtests versucht mögliche Eingang-Ausgang-Transferpfade freizuschalten. Hierbei werden Pfadprädikate mittels symbolischer Ausführung an bedingten Verzweigungspunkten in Form von Gleichungen erzeugt, die auf Erfüllbarkeit hin überprüft werden müssen. Ergibt sich innerhalb eines solchen Gleichungssystems kein Widerspruch, so ist die Existenz des entsprechenden Transferpfades gewährleistet. In diesem Zusammenhang wird ein Verfahren zur Lösung solcher Gleichungssysteme mittels binärer Entscheidungsgraphen vorgestellt.