University of Freiburg Freiburg Germany;
Auburn University Auburn AL USA;
University of Iowa Iowa City IA USA;
Logic gates; Circuit faults; Libraries; Hazards; Transistors; Delays;
机译:评估D-Chains在SAT基ATPG和诊断TPG中的有效性
机译:基于SAT的ATPG超越了固定故障测试:对容错的应用
机译:基于SAT的ATPG的两个变量模型
机译:快速和波形 - 准确的危险感知SAT基TSOF ATPG
机译:基于SAT的自动设计调试:改进和在低功耗设计中的应用
机译:基于环形计数器的ATPG用于低转换测试模式生成
机译:基于saT的aTpG的快速不可测试性证明
机译:组合混合定制可编程电路逆向工程的aTpG攻击。