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【24h】

CdS nanoparticles embedded in metal-insulator-semiconductor structures

机译:嵌入金属-绝缘体-半导体结构中的CdS纳米粒子

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摘要

Metal-insulator-semiconductor structures were fabricated using 40 layers thick Langmuir-Blodgett (LB) films of stearic acid (SA) on hydrophobic n-type silicon (n-Si) substrates. Samples containing cadmium sulphide (CdS) nanoparticles exhibit higher rectification than untreated ones by two orders of magnitudes. The flat band voltage was found to be 0.5 V from the capacitance measurement. The effective dielectric constant of the CdS embedded SA matrix was estimated to be 5.2.
机译:金属绝缘体-半导体结构是在疏水性n型硅(n-Si)衬底上使用40层厚的硬脂酸(SA)的Langmuir-Blodgett(LB)膜制成的。包含硫化镉(CdS)纳米颗粒的样品比未处理的样品显示出更高的整流度两个数量级。通过电容测量发现平带电压为0.5V。嵌入CdS的SA矩阵的有效介电常数估计为5.2。

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