Columbia University, 550 West 120th St, New York, NY 10027;
机译:用于在2 keV至22 keV的宽光子能量范围内进行单色高分辨率X射线成像诊断的多层光学器件
机译:研究6 keV至20 keV能量范围内的多层X射线光学器件
机译:X射线折射光学材料在8-100keV能量范围内的光学性能
机译:硬X射线多层的光常数在能量范围内E = 35 - 180 keV
机译:用于多层反射镜的EUV /软X射线区域中材料的光学常数。
机译:高分辨率光谱仪可在6 keV至15 keV的能量范围内扩展X射线吸收精细结构的测量
机译:硬X射线多层的光常数在能量范围内E = 35 - 180 keV
机译:使用不同输出的X射线机在60-180 KeV范围内确定能量依赖性