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用于检测能量在150eV至300keV范围内的粒子辐射的检测器以及具有这种检测器的材料映像装置

摘要

本发明提供用于检测粒子辐射,特别是具有在150eV至300keV范围内的能量的粒子辐射的检测器,所述检测器包括至少一个检测器元件,所述检测器元件包括:半导体检测器材料;至少一组线形电极,所述线形电极导电连接到所述半导体检测器材料的至少一个表面,每一组包括平行延伸的多个线形电极;和信号处理器,所述信号处理器与所述线形电极通信,其中,在每一组中,所述线形电极以小于3μm的带间距布置,并且所述半导体检测器材料的厚度小于所述线形电极的带间距的三倍。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-11-24

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01T 1/29 授权公告日:20130619 终止日期:20161004 申请日:20071004

    专利权的终止

  • 2013-06-19

    授权

    授权

  • 2013-06-19

    授权

    授权

  • 2010-11-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01T 1/29 申请日:20071004

    实质审查的生效

  • 2010-11-24

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01T 1/29 申请日:20071004

    实质审查的生效

  • 2010-10-13

    公开

    公开

  • 2010-10-13

    公开

    公开

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