Institute of Physics, Silesian University at Opava, Bezrucovo nam. 13, 746 01 Opava, Czech Republic;
white-light source; spectral reflectometry; spectral interferometry; michelson interferometer; fourier transform method; substrate; thickness; refractive index dispersion; thin films; phase spectrum;
机译:基于小波变换在光谱分辨的白光干扰法中快速可靠地测量薄膜厚度曲线
机译:光谱解析白光干涉仪,用于薄膜层结构的3D检查
机译:色散白光光谱干涉法,包括薄膜对距离测量的影响
机译:用于测量薄膜的光谱反射测定和白光干涉测量
机译:用于光谱选择性太阳能材料应用的氧化锌薄膜的溅射。
机译:高光谱成像技术用于动态薄膜干涉仪
机译:具有绝对相位恢复的色散白光光谱干涉法可测量薄膜
机译:使用白光干涉法测量激光腔镜中的色散;硕士论文