Institut d'Electronique Fondamentale, UMR 8622, Universite Paris XI, Bat.220, F-91405 ORSAY Cedex, France;
membranes; interferometry; bulge test; blister test; thin films mechanical properties;
机译:椭圆凸起测试中膨胀膜的几何形状:通过立体数字图像相关测量评估椭圆形近似
机译:来自3D-DIC测量的轴对称凸起测试的膜曲率和应力应变全场。虚拟和实验结果的理论与验证
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机译:使用自定义自动化测试和数据采集系统评估通过微机械纳米多孔膜流体流动的评估
机译:使用吸塑测试在光伏太阳能系统中的粘合力测量。
机译:通过时间分辨干涉测量法重建多孔硅膜中的载流子动力学
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机译:用于膜过滤和核心测试的自动化系统