School of Mechanical Production Engineering Nanyang Technological University 50 Nanyang Avenue, Singapore 639798;
finite element analysis; thermal testing; packaging; fatigue life; thermal stress; thermal strain; creep; assembly;
机译:倒装芯片封装的互连设计和热应力/应变分析
机译:倒装芯片技术中直接芯片连接(DCA)和芯片级封装(CSP)的热应力分析和设计优化
机译:基于采样MOIRE法的逆方法,倒装芯片电子包装底部填充物的残余热应变分布测量
机译:在倒装芯片和芯片级封装上测量热致应变
机译:倒装芯片封装中水分和热感应应力的有限元分析。
机译:激光诱导的单芯片倒装芯片封装的正向转移
机译:倒装芯片封装的可靠性^ ^ mdash;倒装芯片关节的热应力^ ^ mdash;
机译:液冷多芯片模块上倒装芯片的热和机械分析