Dept. of Electrical Engineering, California Institute of Technology, MC 136-93, Pasadena, CA, USA 91125;
differential interference contrast microscopy; interference; phase imaging;
机译:基于结构孔径干涉的定量微分干涉对比显微镜
机译:片上定量二维差分相位成像的四孔孔径干涉
机译:基于主成分分析的定量差分干扰对比度显微镜
机译:基于杨氏干扰的四孔变化的二维差分干扰对比度显微镜
机译:基于SLM的傅立叶微分干涉对比显微镜。
机译:使用高级差分干涉对比显微镜在细胞和组织结构中高分辨率映射二维相分布
机译:基于结构孔径干涉的定量微分干涉对比显微镜