Electronic Research Laboratory, University of California at Berkeley, Berkeley, CA 94720;
resist threshold model; critical dimension; 193nm lithography;
机译:用于193nm浸没式光刻的高RI抗蚀剂的合理设计
机译:用于193nm光刻的氟代甲基丙烯酸甲酯
机译:193nm浸没式光刻胶中抗蚀剂组分界面传质的研究与控制
机译:模拟化学放大的抗蚀剂或193nm光刻
机译:电子束光刻光刻胶的研制与应用。
机译:电阻性随机存取存储器(RRAM):材料交换机制性能多层单元(mlc)存储建模和应用概述
机译:用于193 nm浸没式光刻的非CA抗蚀剂:化学结构对灵敏度的影响
机译:用于X射线激光器的毛细管放电等离子体的建模,XUV光刻和其他应用