Schott Glas, Hattenbergstr. 10, D-55014 Mainz, Germany;
机译:2012年春季E-MRS-研讨会W,“纳米级设备III的先进材料的光学和X射线计量学的最新趋势”特刊,于2012年5月14日至18日在法国斯特拉斯堡举行
机译:轻松实现光学计量:先进的材料显微镜
机译:基于荧光的粘性材料高速质量控制的光学测量方法
机译:用于高质量光学材料的高级工业荧光计量
机译:梯度折射率材料的光学相干断层扫描计量和自由形态光学表面
机译:通过为光学相干断层扫描数据开发的自动边界检测算法快速准确地测量多层陶瓷材料
机译:超分辨率光学成像:用于多路复用荧光超分辨率成像的等离子体纳米体(先进的光学材料20/2018)
机译:微电子封装和互连的计量和数据:商业电气和光学封装及互连技术的材料计量和数据联合研讨会的结果。 5月5日至6日在马里兰州盖瑟斯堡举行