Teradyne Inc., North Reading, MA, USA;
printed circuit design; circuit reliability; circuit optimisation; thermal stresses; normal distribution; six sigma (quality); nonlinear programming; integer programming; genetic algorithms; stochastic reliability optimization procedure; MTBF; system failure rate minimization; electronic component lifetime data variations; electrical stresses; thermal stresses; PCB stress variations; reliability metrics uncertainties; system failure rate; mean time between failures; stochastic failure rate method; normal distributi;
机译:基于可变设计系统寿命数据的零件可靠性非参数估计
机译:在设计阶段不确定组件失效率下的串联系统可靠性优化
机译:基于故障率模型的电子元器件可靠性预测系统
机译:考虑电子元器件寿命数据变化的系统故障率降至最低
机译:具有组件动态故障概率的系统的基于可靠性的设计优化。
机译:PCB电子元件检测网络设计基于有效接收场大小和锚尺寸匹配
机译:设计阶段不确定部件故障率下系列系统的可靠性优化
机译:使用组件失效测试数据的蒙特卡罗技术近似有威布尔分布特征的系统的可靠性置信限