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Fast linear measurement and surface metrology techniques

机译：快速线性测量和表面计量技术

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来源
《Commercial Applications of Precision Manufacturing at the Submicron Level》|1991年|p.170-170|共1页
会议地点 London(GB)
作者
D.Pitt; Renishaw Transducer Systems Ltd.; Wotton-u-Edge; United Kingdom.;
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作者单位

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会议组织
原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类无线电电子学、电信技术;
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