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1.
Microlens arrays
机译:
微透镜阵列
作者:
M.C. Hutley
;
National Physical Lab.
;
Teddington
;
Middx
;
United Kingdom
;
Richard F. Stevens
;
National Physical Lab.
;
Teddington
;
Middlesex
;
United Kingdom
;
D.Daly
;
National Physical Lab.
;
Teddington
;
Middx
;
United Kingdom.
会议名称:
《Commercial Applications of Precision Manufacturing at the Submicron Level》
|
1991年
2.
Cost-effective production of microgrooves for drag reduction on the surface of aircraft in situ
机译:
高性价比的微槽生产,用于现场减少飞机表面的阻力
作者:
Kwing-So Choi
;
Univ. of Nottingham
;
Nottingham
;
United Kingdom.
会议名称:
《Commercial Applications of Precision Manufacturing at the Submicron Level》
|
1991年
3.
Commercial applications of precision manufacturing at the sub-micronlevel,
机译:
亚微米级精密制造的商业应用,
作者:
M.Draper
;
Dept. of Trade
;
Industry
;
London
;
United Kingdom.
会议名称:
《Commercial Applications of Precision Manufacturing at the Submicron Level》
|
1991年
4.
Electrolytically assisted ductile-mode diamond grinding of BK7 and SF10 optical glasses
机译:
BK7和SF10光学眼镜的电解辅助延性模式金刚石磨削
作者:
Matthew J. Ball
;
Pilkington plc
;
Lathom
;
Ormskirk
;
Lancs
;
United Kingdom
;
N.A. Murphy
;
Pilkington plc
;
Lathom
;
Ormskirk
;
Lancs
;
United Kingdom
;
Paul Shore
;
Cranfield Unit for Precision Engineering
;
Cranfield
;
Bedford
;
United Kingdom.
会议名称:
《Commercial Applications of Precision Manufacturing at the Submicron Level》
|
1991年
5.
Fast linear measurement and surface metrology techniques
机译:
快速线性测量和表面计量技术
作者:
D.Pitt
;
Renishaw Transducer Systems Ltd.
;
Wotton-u-Edge
;
United Kingdom.
会议名称:
《Commercial Applications of Precision Manufacturing at the Submicron Level》
|
1991年
6.
Fundamental axial spindle motions and optical tolerancing
机译:
轴向主轴的基本运动和光学公差
作者:
Mark C. Gerchman
;
Rank Taylor Hobson Inc.
;
Keene
;
NH
;
USA.
会议名称:
《Commercial Applications of Precision Manufacturing at the Submicron Level》
|
1991年
7.
Hybrid refractive-diffractive lens for manufacture by diamond turning
机译:
通过金刚石车削制造的混合折射衍射透镜
作者:
A.P. Wood
;
Precision-Optical Engineering
;
Hitchin
;
Herts
;
United Kingdom.
会议名称:
《Commercial Applications of Precision Manufacturing at the Submicron Level》
|
1991年
8.
Tetraform grinding
机译:
四面体研磨
作者:
Kevin Lindsey
;
National Physical Lab.
;
Teddington
;
Middlesex
;
United Kingdom.
会议名称:
《Commercial Applications of Precision Manufacturing at the Submicron Level》
|
1991年
9.
Compensation of residual form errors in precision-machined components
机译:
补偿精密加工零件中的残余形状误差
作者:
Mark C. Gerchman
;
Rank Taylor Hobson Inc.
;
Keene
;
NH
;
USA.
会议名称:
《Commercial Applications of Precision Manufacturing at the Submicron Level》
|
1991年
10.
Trends in optical design and optical surfaces
机译:
光学设计和光学表面的趋势
作者:
Philip J. Rogers
;
Pilkington Optronics
;
St. Asaph
;
Clwyd
;
United Kingdom.
会议名称:
《Commercial Applications of Precision Manufacturing at the Submicron Level》
|
1991年
11.
Overview: sensitive techniques for surface measurement and characterization
机译:
概述:用于表面测量和表征的敏感技术
作者:
Jean M. Bennett
;
Naval Weapons Ctr.
;
China Lake
;
CA
;
USA.
会议名称:
《Commercial Applications of Precision Manufacturing at the Submicron Level》
|
1991年
12.
Optoelectronic packaging
机译:
光电包装
作者:
Rebwar M. Fatah
;
British Telecom Research Labs.
;
Ipswich
;
Suffolk
;
United Kingdom
;
David M. Bird
;
British Telecom Research Labs.
;
Ipswich
;
Suffolk
;
United Kingdom
;
Maurice K. Cox
;
British Telecom Research Labs.
;
Ipswich
;
Suffolk
;
United Kingdom
;
Mike J. P
会议名称:
《Commercial Applications of Precision Manufacturing at the Submicron Level》
|
1991年
13.
Overview: materials and processes
机译:
概述:材料和工艺
作者:
Roger Morrell
;
National Physical Lab.
;
Teddington
;
Middlesex
;
United Kingdom
;
Kevin Lindsey
;
National Physical Lab.
;
Teddington
;
Middlesex
;
United Kingdom.
会议名称:
《Commercial Applications of Precision Manufacturing at the Submicron Level》
|
1991年
14.
Sol-gel technology
机译:
溶胶凝胶技术
作者:
Nicholas J. Phillips
;
Loughborough Univ. of Technology
;
Loughborough
;
Leicestershire
;
United Kingdom.
会议名称:
《Commercial Applications of Precision Manufacturing at the Submicron Level》
|
1991年
15.
Total joint prostheses: a bearing problem
机译:
全关节假体:轴承问题
作者:
M.A. Elloy
;
DePuy International Ltd.
;
Beeston
;
Leeds
;
West Yorkshire
;
United Kingdom.
会议名称:
《Commercial Applications of Precision Manufacturing at the Submicron Level》
|
1991年
16.
Surface characterisation via optical diffraction
机译:
通过光学衍射表征表面
作者:
Daniel I. Mansfield
;
Rank Taylor Hobson Ltd.
;
Leicester
;
United Kingdom.
会议名称:
《Commercial Applications of Precision Manufacturing at the Submicron Level》
|
1991年
17.
Pneumatic method for making fast higher resolution noncontacting measurement of surface topography
机译:
快速进行高分辨率的非接触式表面形貌测量的气动方法
作者:
Ronald W. Woolley
;
Fluid Film Devices Ltd.
;
Romsey
;
Hants
;
Hampshire
;
United Kingdom.
会议名称:
《Commercial Applications of Precision Manufacturing at the Submicron Level》
|
1991年
18.
Production and testing of precision plastics optical components
机译:
精密塑料光学元件的生产和测试
作者:
Ian K. Pasco
;
Combined Optical Industries Ltd.
;
Slough
;
Berkshire
;
United Kingdom.
会议名称:
《Commercial Applications of Precision Manufacturing at the Submicron Level》
|
1991年
19.
Personal manufacturing systems
机译:
个人生产系统
作者:
P.Bailey
;
Tycho Technology Ltd.
;
Durrington
;
Worthing
;
West Sussex
;
United Kingdom.
会议名称:
《Commercial Applications of Precision Manufacturing at the Submicron Level》
|
1991年
20.
Some problems in the characterisation of surface microtopography
机译:
表面微形貌表征中的一些问题
作者:
Tom R. Thomas
;
Teesside Polytechnic Metrology Ctr.
;
Cleveland
;
Middlesborough
;
United Kingdom.
会议名称:
《Commercial Applications of Precision Manufacturing at the Submicron Level》
|
1991年
21.
Standard for surface damage
机译:
表面损伤的标准
作者:
Lionel R. Baker
;
Consultant
;
Otpington
;
Kent
;
United Kingdom.
会议名称:
《Commercial Applications of Precision Manufacturing at the Submicron Level》
|
1991年
22.
Single-point diamond form-finishing of glasses and other macroscopically brittle materials
机译:
玻璃和其他宏观脆性材料的单点金刚石成型加工
作者:
Anthony E. Gee
;
Cranfield Institute of Technology
;
Cranfield
;
Bedford
;
United Kingdom
;
R.C. Spragg
;
Cranfield Institute of Technology
;
Cranfield
;
Bedford
;
United Kingdom
;
K.E. Puttick
;
Univ. of Surrey
;
Guildford
;
Surrey
;
United Kingdom
;
M.R. Rudman
;
Univ.
会议名称:
《Commercial Applications of Precision Manufacturing at the Submicron Level》
|
1991年
23.
Noncontact surface profiling using a novel capacitive technique: scanning capacitance microscopy
机译:
使用新型电容技术的非接触表面轮廓:扫描电容显微镜
作者:
C.D. Bugg
;
Wentworth Labs. Ltd.
;
Sandy
;
Bedfordshire
;
United Kingdom.
会议名称:
《Commercial Applications of Precision Manufacturing at the Submicron Level》
|
1991年
24.
Measurement of complex shapes: optical noncontact methods
机译:
复杂形状的测量:光学非接触方法
作者:
David M. Ring
;
Pilkington Technology Ctr.
;
Lathom
;
Ormskirk
;
Lancs
;
United Kingdom.
会议名称:
《Commercial Applications of Precision Manufacturing at the Submicron Level》
|
1991年
25.
Calibration of height-measuring probes
机译:
测高探头的校准
作者:
S.T. Smith
;
Univ. of Warwick
;
Coventry
;
West Midlands
;
United Kingdom
;
D.G. Chetwynd
;
Univ. of Warwick
;
Coventry
;
West Midlands
;
United Kingdom
;
D.K. Bowen
;
Univ. of Warwick
;
Coventry
;
West Midlands
;
United Kingdom.
会议名称:
《Commercial Applications of Precision Manufacturing at the Submicron Level》
|
1991年
26.
Cost-effective fabrication of optical components using sub-nanometer closed-loop control of the polishing surface shape
机译:
使用亚纳米级的抛光表面形状闭环控制,经济高效地制造光学组件
作者:
Max I. Robertson
;
Logitech Ltd.
;
Glasgow
;
Scotland
;
United Kingdom
;
Peter Barrie
;
Logitech Ltd.
;
Glasgow
;
Scotland
;
United Kingdom.
会议名称:
《》
|
1991年
27.
Computer-controlled polishing to fabricate special optics
机译:
计算机控制的抛光以制造特殊光学器件
作者:
Volkmar Giggel
;
Carl Zeiss Jena GmbH
;
Jena
;
Federal Republic of Germany
;
Armin Leitel
;
Carl Zeiss Jena GmbH
;
Jena
;
Federal Republic of Germany.
会议名称:
《Commercial Applications of Precision Manufacturing at the Submicron Level》
|
1991年
28.
High-precision silicon nitride balls for bearings
机译:
轴承用高精度氮化硅球
作者:
Robin T. Cundill
;
SKF Engineering
;
Research Ctr. BV
;
Neiuwegein DT
;
Netherlands.
会议名称:
《Commercial Applications of Precision Manufacturing at the Submicron Level》
|
1991年
29.
Excimer lasers for submicron feature generation
机译:
用于产生亚微米特征的准分子激光器
作者:
Ronald A. Lawes
;
Rutherford Appleton Lab.
;
Imperial College of Scie nce
;
Te
;
Chilton/Didcot
;
Oxon
;
United Kingdom.
会议名称:
《Commercial Applications of Precision Manufacturing at the Submicron Level》
|
1991年
30.
Manufacture of large-scale mechanical devices in single-crystal silicon by high-speed grinding
机译:
通过高速研磨在单晶硅中制造大型机械设备
作者:
S.T. Smith
;
Univ. of Warwick
;
Coventry
;
West Midlands
;
United Kingdom
;
D.G. Chetwynd
;
Univ. of Warwick
;
Coventry
;
West Midlands
;
United Kingdom
;
D.Jackson
;
Univ. of Warwick
;
Coventry
;
West Midlands
;
United Kingdom.
会议名称:
《Commercial Applications of Precision Manufacturing at the Submicron Level》
|
1991年
31.
Advances in interferometric wavefront-measuring technology through the direct measuring interferometry method
机译:
直接测量干涉法在干涉波前测量技术中的进展
作者:
Michael F. Kuechel
;
Carl Zeiss
;
Oberkochen
;
Federal Republic of Germany.
会议名称:
《Commercial Applications of Precision Manufacturing at the Submicron Level》
|
1991年
32.
Commercial applications of precision manufacturing at the sub-micron level
机译:
亚微米级精密制造的商业应用
作者:
Author(s): M.Draper Dept. of Trade and Industry London United Kingdom.
会议名称:
《Commercial Applications of Precision Manufacturing at the Submicron Level》
|
1991年
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