Dell Perot Systems GSFC/NASA Code 562, Greenbelt, MD 20771;
机译:后金属化退火降低钽氧化物电容器漏电流的机理
机译:由于钽和铌氧化物电容器中的离子漂移和扩散引起的漏电流降解
机译:由于钽和铌氧化物电容器中的离子漂移和扩散引起的漏电流降解
机译:停滞退火在固体钽电容器中漏电流的影响
机译:研究聚合物钽电容器中的击穿前电流。
机译:A-Ingazno薄膜晶体管中光漏电流和负偏压照明应力的退火诱导稳定性的定量分析
机译:钽和氧化铌电容器中离子漂移和扩散引起的漏电流降解
机译:后HaLT退火对固体钽电容器漏电流的影响