BIST; low-power testing; minimum transition fill; multiple LFSRs; test data compression;
机译:使用多个线性反馈移位寄存器进行确定性的内置自测试,可降低测试功率并减小测试体积
机译:在芯片上实现基于伪线性反馈移位寄存器的物理不可克隆功能,并在发货前使用内置的自检功能来获取足够的质询-响应对
机译:内置超前时钟门控技术的新型线性反馈移位寄存器,可在内置自测中动态降低功耗
机译:使用多个线性反馈移位寄存器进行确定的内置自检,用于低功耗扫描测试
机译:在算法和寄存器传输级别进行内置自检的测试策略。
机译:基于线性反馈移位寄存器循环旋转的高斯伪随机数发生器
机译:多输出低功耗线性反馈移位寄存器设计