Beijing University of Posts and Telecommunications, P. O. Box 66, Beijing, 100876, China;
nonselective etching; selective etching; air-gap cavity; AlAs; Al_(0.8)Ga_(0.2)As; GaAs;
机译:柠檬酸/ H_2O_2 / H_2O刻蚀系统在Al_(0.2)Ga_(0.8)As上高选择性刻蚀GaAs
机译:在脉冲DC BC1_3 / SF_6等离子体中在Al_(0.2)Ga_(0.8)As半导体上选择性蚀刻GaAs
机译:GaAs / Al_(0.2)Ga_(0.8)As的非常高的选择性蚀刻,用于使用柠檬酸缓冲溶液的伪高电子迁移率晶体管(PHEMT)应用的栅极凹进工艺
机译:准确的非选择性和选择性蚀刻GaAs / Al_(0.8)Ga_(0.2)的Ga_(0.2)为/ alas结构,用于制造空气间隙腔
机译:La0.7Sr0.3MnO 3 / PbZr0.2Ti0.8O3异质结构的同步加速研究。
机译:LaFe0.8Cu0.2O3-δ和BaFe0.8Cu0.2O3-δ作为无钴钙钛矿型氧还原阴极材料的结构和性能
机译:p型二维孔道Landau水平的光致发光研究 单个al_ {x} Ga_ {1-x} as / Gaas异质结构
机译:通过横截面扫描隧道显微镜研究In(sub 0.2)Ga(sub 0.8)as / Gaas应变层的原子尺度界面结构