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多結晶シリコン薄膜フオノニックナノ構造における熱伝導率のァニール時間依存性

机译:多晶硅薄膜声子纳米结构中导热系数的退火时间依赖性

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摘要

IoT社会の到来によりセンサーノードの数が爆発的に増え、自立電源としてのエナジーハーべスタ の需要が高まり、環境負荷の小さいシリコンを用いた熱電変換デバイスが注目されている。これまで、シ リコン薄膜を用いたデバイスが報告されている力、熱キヤリァであるフオノンの性質に注目しマルチス ケールでフオノンの散乱を誘起することで、薄膜においてZTの大きな向上が報告されている[2]。今回、 イオン注入を行った多結晶シリコンについて、熱ァニール条件を変えて熱伝導率を変化させ、フオノ二 ック結晶(PnC)ナノ構造と合わせて熱伝導率を低減した結果について報告する。
机译:随着物联网社会的到来,传感器节点的数量爆炸性地增加,并且作为自持电源的能量收集器的需求也增加了,使用硅的热电转换装置具有较低的环境负荷,引起了人们的关注。迄今为止,已经报道了使用硅薄膜的器件,并且已经关注了作为热载体的声子的特性,并且已经报道了通过在多尺度上引起声子散射而在薄膜中对ZT的极大改善。 [2]。在这里,我们报告了通过改变热退火条件和改变热导率以及声子晶体(PnC)纳米结构来降低离子注入多晶硅的热导率的结果。

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