屋外曝露試験と屋内加速試験において共通して発現するc-Si PVモジュールの電極腐食由来インピーダンス変化

摘要

結晶シリコン太陽電池（c-Si PV）モジュールでは、長期屋外曝露において、湿熱ストレスによる表面電極の腐食に起因する経年劣化が生じることが知られている。我々は、PVセルを酢酸蒸気に曝露した際に発現する交流インピーダンス成分が、表面電極－シリコン界面を起源とすることを見出した。また、2種の屋内加速試験において、この交流インピーダンス成分の増大などが出力低下と関連することを明らかにしてきた 。今回は、長期間にわたり屋外曝露されてきた c-Si PV モジュールを解析し、屋内加速試験（高温高湿試験）における交流インピーダンス成分の特性変化と共通する変化動態を見出したので、両試験環境において共通する劣化メカニズムを推定した。