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多機能走査型プローブ顕微鏡によるトレンチSiC-MOSFETの評価パワーデバイス用結晶の評価(ⅩⅩⅧ)

机译:用多功能扫描探针显微镜评估沟槽式SiC-MOSFET功率器件晶体(ⅩⅩⅧ)

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摘要

高性能パワーデバイスとしてシリコンパワーデバイスの性能向上が、継続的かつ精力的に行われてきた。その結果、シリコンとして引き出せる限界に近づいている。そのため高性能パワーデバイスとして、近年シリコンカーバイド(SiC)が注目され、デバイスが製造されている。そこで我々は、様々なパワーデバイスの多機能走査型プローブ顕微鏡による評価を行っている。今回はトレンチSiC-MOSFETの評価を行ったので報告する。
机译:硅功率器件作为高性能功率器件的性能已经得到持续而有力的改善。结果,我们正在接近可以提取为硅的极限。因此,近年来,碳化硅(SiC)作为高性能功率器件引起了关注,并且已经制造了该器件。因此,我们正在使用多功能扫描探针显微镜评估各种功率设备。这次,我们将评估沟槽SiC-MOSFET。

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