首页> 外文会议>応用物理学会秋季学術講演会 >多機能走査型プローブ顕微鏡によるトレンチSiC-MOSFETの評価パワーデバイス用結晶の評価(ⅩⅩⅧ)
【24h】

多機能走査型プローブ顕微鏡によるトレンチSiC-MOSFETの評価パワーデバイス用結晶の評価(ⅩⅩⅧ)

机译:多功能扫描探针显微镜评价沟槽SiC-MOSFET对电力装置晶体的多功能探头评价(XXIVII)

获取原文

摘要

高性能パワーデバイスとしてシリコンパワーデバイスの性能向上が、継続的かつ精力的に行われてきた。その結果、シリコンとして引き出せる限界に近づいている。そのため高性能パワーデバイスとして、近年シリコンカーバイド(SiC)が注目され、デバイスが製造されている。そこで我々は、様々なパワーデバイスの多機能走査型プローブ顕微鏡による評価を行っている。今回はトレンチSiC-MOSFETの評価を行ったので報告する。
机译:硅功率装置的性能改进是连续且剧烈地作为高性能功率装置进行的。结果,它正在接近可以作为硅拔出的极限。因此,作为高性能功率装置,碳化硅(SiC)引起了一种注意,并且制造了装置。因此,我们评估各种功率器件的多功能扫描探针显微镜。这次我们在评估时报告沟槽SIC-MOSFET。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号