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ァニオン交換を用いた新規ドーピング手法による高分子半導体の伝導特性と熱耐久性の向上

机译:利用阴离子交换的新型掺杂方法改善聚合物半导体的电导率和热耐久性

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摘要

高分子半導体の高効率な分子ドーピングは熱竈素子への応用など注目を集めている。我々は分子ドーピングの効率および熱耐久性を高める「ァニオン交換ドーピング」という新たなコンセプトを発表する。本研究ではPBTTT薄膜のドーピングをF4TCNQドーパント溶液への浸漬により行った。ここで、イオン性化合物であるEMIM-TFSIが溶液中に存在する場合には、PBTTT薄膜中のF4TCNQラジカルァニオンがTFSIァニオンに自発的に100%に近い効率で交換されることを光吸収、FT-IR、 ESR測定から確認した。さらに、用いるイオン性化合物の選択によってイオン間相互作用を適切に制御すると、ァニオン交換ドーピングによるエネルギー利得を操作することができ、ドーピングの効率を向上させることが可能であることが分かった。配向化手法を施したPBTTT薄膜の場合には、電気伝導度は1000 S/cmを超える値を示した。強いド一ピング材料は耐久性に問題がある場合が多いが、このドーピング手法では安定なァニオン種を高分子半導体に格納することができるため、ドープ膜の熱耐久性を大きく向上できることも判明した。
机译:聚合物半导体的高效分子掺杂已引起关注,例如应用于热轧器件。我们宣布了一个新概念,称为“阴离子交换掺杂”,可提高分子掺杂的效率和耐热性。在这项研究中,PBTTT薄膜通过浸入F4TCNQ掺杂剂溶液中进行掺杂。在此,当溶液中存在作为离子化合物的EMIM-TFSI时,PBTTT薄膜中的F4TCNQ自由基阴离子会自发地与TFSI阴离子交换,吸收效率接近100%,由FT-IR和ESR测量确认。此外,发现如果通过选择要使用的离子化合物来适当地控制离子相互作用,则可以操纵通过阴离子交换掺杂获得的能量增益,并且可以提高掺杂效率。经受取向方法的PBTTT薄膜的电导率超过1000S / cm。强掺杂材料通常在耐久性方面存在问题,但是还发现该掺杂方法可以显着改善掺杂膜的热耐久性,因为它可以在聚合物半导体中存储稳定的阴离子种类。 ..

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