Sandia National Laboratories, Albuquerque, NM 87185-1411;
arrhenius extrapolation; oxygen consumption; lifetime prediction;
机译:半结晶电缆绝缘材料的使用寿命预测:I. EPR材料的机械性能和耗氧量测量
机译:等温热重数据的回归以评估聚合物的降解E_a值:与文献方法的比较以及寿命预测可靠性的评估。第二部分
机译:通过压缩应力松弛和耗氧技术预测弹性体密封件长期使用寿命的改进方法的验证
机译:复述超细氧消耗方法,用于制作更可靠的聚合物寿命预测
机译:用于蒙特卡洛裂变源迭代的标准和外推功率方法中随机收敛的预测和分析
机译:可降解聚合物材料的寿命预测方法 - 短暂的评论
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机译:预测武器生命的新方法。第1部分 - 超敏感性氧消耗量测量预测EpDm O形圈的使用寿命