Nikon Metrology NV, Belgium, Research Dep;
Nikon Metrology NV, Belgium, Research Dep;
Nikon Metrology NV, Belgium, Prod. Manager;
Nikon Metrology NV, Belgium, Sales Dep;
机译:被测对象参数对三坐标测量机触发式测头精度的影响
机译:确定长宽比限制,激光线扫描CMM探针的准确性和可重复性
机译:超高精度三坐标测量机及其相关的触觉或/和光学扫描探针
机译:用于特征检测的CMMS上的激光扫描仪探针:光学探测精度接近触觉探测精度
机译:触觉探针坐标测量机和激光扫描技术的反向工程比较。
机译:用于检测上皮内瘤变的Barrett食管与基于探针的共聚焦激光显微内镜初步准确性和观察者间协议
机译:确定长宽比限制,激光线扫描CMM探针的准确性和可重复性