STMicroelectronics, Crolles, France;
flaw detection; integrated circuit manufacture; pattern matching; production engineering computing; automatic flow; design based binning tool; inspection defect files; production environment; random defectivity; statistical correlation; systematic defects; Design based binning; systematic defectivity;
机译:使用缺陷跟踪矩阵结合主成分分析的大规模定制生产中的缺陷跟踪
机译:使用抽象隐马尔可夫模型在宽域空间环境中进行跟踪和监视
机译:热环境中狗追踪预水合策略的随机交叉现场研究
机译:跟踪生产环境中隐藏在随机缺陷中的与设计相关的缺陷
机译:使用随机假设生成技术的多空间物体跟踪
机译:热环境中狗追踪预水合策略的随机交叉现场研究
机译:使用自适应SURF跟踪和隐藏条件随机场的非受控环境的实时手势识别