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【24h】

Non-Contact SPV-based Method for Advanced Ion Implant Process Control

机译:基于非接触式SPV的先进离子注入过程控制方法

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摘要

Surface photo voltage (SPV) measurement has become an important semiconductor characterization tool due to the availability of commercial equipment and its non-contact nature. In this study, we discuss the application of the SPV technique for the control
机译:由于商用设备的可用性及其非接触性,表面光电压(SPV)测量已成为重要的半导体表征工具。在这项研究中,我们讨论了SPV技术在控制中的应用

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