Van der Waals-Zeeman Institute, University of Amsterdam, Valckenierstraat 65, NL-1018 XE Amsterdam, The Netherlands;
energy levels; erbium; magnetic resonance; optical spectroscopy; silicon;
机译:结晶硅中铒杂质的光谱表征
机译:氧化铒(ER2O3)处理多孔硅表面上的晶体硅的钝化,提高光伏性能
机译:氧化铒(ER2O3)处理多孔硅表面上的晶体硅的钝化,提高光伏性能
机译:晶体半导体中impurity杂质的光谱表征
机译:共掺杂杂质对硅中er的晶格位置的离子束研究。
机译:单晶和纳米晶金刚石中的b发光中心—离子注入注量和热退火的影响
机译:在多晶硅纯硅和含硅的光杂质中过冷却(C和O)的生长
机译:多晶硅多层结构CVD沉积和掺杂的光谱椭偏法表征