シンクロトロンX線トポグラフィーによる垂直ブリッジマン成長β-Ga_2O_3単結晶の欠陥の観察

机译：同步加速器X射线形貌观察垂直布里奇曼生长β-Ga_2O_3单晶中的缺陷

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シンクロトロンX線トポグラフィーを用いてVB成長β-Ga_2O_3単結晶の観察を行った． [010]方向への転位列などが観察されたが，EFG 結晶と同等の良質な結晶であることがわかった．

机译：使用Synchrotron X射线形貌进行VB生长β-GA_2O_3单晶的观察。观察到[010]方向的脱位序列，但发现它是等于EFG晶体的良好晶体。

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《2019年第66回応用物理学会春季学術講演会講演予稿集》|2019年|15.012|共1页
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桝谷聡士; 佐々木公平; 倉又朗人; 小林拓実; 干川圭吾; 上田修; 嘉数誠;
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