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変調中間層による歪制御積層InAs 量子ドットの光学特性制御

机译:调制中间层的畸变控制叠层InAs量子点的光学特性控制

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摘要

当研究室では、キャップ層による歪変化に着目し、InAs QD を2層積層し、QD表面をInGaAs 4nm の薄膜によって覆うことで、常・低温の双方において、1.6 μm以上で発光するGaAs (001) 面上 InAs QD 素子の開発に成功した。しかし、この薄膜キャップ層を厚膜化することで、発光波長が典型的な InAs QD の発光域である1.0~1.3 μm に短波長化してしまうため、素子化に向けた課題となっている。前回の報告では、積層されたQD層の間に挟まれ、歪伝達に寄与する中間層に着目し、その中間層をGaAsから変調する事によって、QDサイズが変化することを報告した。今回は、それらの変調中間層の導入によるInAs QDの光学特性の変化について報告する。
机译:在我们的实验室中,我们集中研究了由于盖层引起的应变变化,将两层InAs QD层压在一起,并使QD表面InGaAs 4 通过用nm薄膜覆盖,GaAs(001)表面在常温和低温下均以1.6μm或更大的波长发光。 成功开发了上层InAs QD器件。然而,通过加厚该薄膜覆盖层,它发光。 由于波长被缩短为典型的InAs QD的发光范围,即1.0至1.3μm,因此适合元素化。 这是一个数量级的问题。在以前的报告中,它夹在叠层的QD层之间,并有助于应变传递。 着眼于中间层,我们报道了通过调制来自GaAs的中间层来改变QD尺寸。 助教。这次,我们报告了由于引入了这些调制中间层而导致的InAs QD光学特性的变化。

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