机译:Ce置换和Bi-Si-O的添加导致Sr-Ce-Bi-Ta-Si-O基强电介质的晶体结构和强介电性能的变化
机译:SR-CE-BI-TA-TA-SI-O基铁的晶体结构和铁电变化通过CE替代,Bi-Si-O添加
机译:Sr_(1-x)Bi_(2 + x)Ta_2O_(9-delta)(x = 0,0.2)热处理对晶体结构和电介质强介电性能的影响
机译:0.4bi_(0.5)k_(0.5)tio_3-0.6bifeo_3铁锡铁电器的铁电性能,晶体晶体替代对电子结构的影响
机译:反铁电?压力对铁电相变的影响
机译:铋铁氧体薄膜的晶体结构,铁电性能及其应力效应的研究