National Institute of Standards and Technology 325 Broadway, Boulder, CO 80305;
机译:直接射频采样接收器中带通采样四通道时间交错ADC的数字失配校正
机译:用外部光电采样头校正皮秒电压脉冲
机译:对“用于训练样本协方差矩阵的特征值不匹配的CFAR检测器”的更正
机译:使用KRISS的脉冲电光采样进行失配分析
机译:计算复杂矿物处理系统中采样误差的方差和协方差,并使用数据对账纠正这些误差
机译:通过光电采样直接测量细菌视紫红质的光电响应时间
机译:元素图像生成方法与透镜与像素在整体成像中的子像素采样校正
机译:具有采样确定性输出的电光传感器的多维系统分析