Laser and Metrology Systems Lab., Materials Systems Technologies, GE Global Research, Schenectady, NY 12309, USA;
Thin Films Lab., Micro and Nano Structures Technologies, GE Global research, Schenectady, NY, 12309, USA;
Laser and Metrology Systems Lab., Materials Systems Technologies, GE Global Research, Schenectady, NY 12309, USA;
机译:评论“用于亚ppm级的微滴分析的纳米粒子增强激光诱导击穿光谱法”:使用纳米粒子增强激光诱导击穿光谱法定量测量流体时要考虑的几个问题
机译:皮秒激光微加工在直接制造衍射光栅模具中的实际应用
机译:使用亚纳秒级脉冲激光在金刚石表面上激光加工微结构
机译:激光微/纳米加工中的实际问题
机译:通过激光微加工在石英基板中制造微通道和纳米通道系统。
机译:激光加工制备微米/纳米结构
机译:评论“纳米粒子增强激光诱导的击穿光谱分析SUBPPM级别”:在使用纳米粒子增强的激光诱导的击穿光谱法定量测量流体时需要考虑的几个问题